XRF镀层测厚仪
-
手持式XRF镀层测厚仪
手持式XRF镀层测厚仪便携现场初筛，焦斑约0.3mm、重复性≤0.08μm，适合仓库、产线旁的镀金端子快速厚度巡检与来料初判。
-
台式XRF镀层分析仪
台式XRF镀层分析仪主打实验室与出厂全检精度，大样品台、自动多点、重复性≤0.04μm，适配镀金端子批量厚度测量与第三方背书。
-
Au/Ni多分层XRF测厚仪
面向镀金端子的Au/Ni/Cu多分层XRF测厚仪，微焦斑≤0.1mm、重复性≤0.05μm、检出限≤0.005μm，支持多点取最小值自动判合格。
